詢價
- 檢出限：金屬鍍層分析最薄可達0.005μm
- 鍍層測試：<5%
- 測試寬度：0.1mm
- 穩定性：多次測量重復性可達1%
- 同時檢測元素：可同時分析24個元素，五層鍍層
- X射線裝置：微焦斑W靶光管
EDX600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，專門研發的一款下照式結構的電鍍測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行準確檢測，幫助企業準確核算成本及質量管控。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等領域。
進口的高功率高壓單元搭配微聚焦的X光管，極大的保證了信號輸出的效率與穩定性。
相比普通版的EDX 600，EDX 600 PLUS采用了更為先進的高分辨率FAST SDD探測器，其分辨率高達140EV，能完美的將不同的元素準確解析，針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量，有著不可比擬的優勢。
在準直器的選擇上，EDX 600 PLUS也有著很大的優勢，相較于普通的EDX600，它可以搭配的準直器更小∶0.1*0.2mm，φ0.15mm；φ0.2mm；φ0.3mm等等。用超小的準直器得到的超小光斑，讓更小樣品的測量也變得游刃有余。
設計亮點
全新的下照式設計，一鍵式的按鈕，極大減少擺放樣品時間。
全新的光路系統，很大程度上減少了光斑的擴散，實現了對更小產品的測試。
配合高性能距離補正算法，實現了對不規則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測試面的準確測試。
軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監控，讓您的使用更加放心。
EDX600PLUS與EDX600的技術參數對比
結論∶經實測，EDX600 PLUS針對鍍層厚度分析，尤其是微小樣品的厚度檢測，有著非常卓越的穩定性與精密度，測試效果可以與超高倍數的電子顯微鏡測試準確度媲美。
